Productos para capas finas, ingeniería de plasma y superficies
Serie HPR-30
Analizadores de gas con bombeo diferencial in-situ para composición de gases en procesos de vacío, control de la contaminación y la detección de fugas.
HPR-60 MBMS
El HPR-60 MBMS (espectrómetro de masas de haz molecular) está optimizado para el análisis de iones positivos (+ ve) y negativos (-ve), así como neutros y radicales, lo que lo convierte en una solución robusta para el análisis de plasma y combustión.
HMT
Un sistema RGA de modo dual para diagnóstico de vacío y monitoreo de procesos sin bombeo diferencial. Mide los gases residuales, procesa contaminantes y proporciona detección de fugas.
Serie EQP
Los sistemas EQP son analizadores combinados de masa y energía para estudios detallados de plasma. Los sistemas EQP proporcionan análisis de alta sensibilidad de iones de plasma positivos y negativos, neutrales y radicales.
PSM
Los sistemas PSM son analizadores combinados de masa y energía con analizador de energía en línea para el diagnóstico de plasma, que identifican los componentes clave y la cinética de reacción en la química del plasma.
ESPion
Una sonda Langmuir avanzada con mediciones estáticas y resueltas espacialmente de los parámetros eléctricos primarios del plasma de baja presión.
IMP-EPD
Detector de punto final de sondas de ionesde ataque para la identificación de interfaces de materiales en la fabricación de dispositivos multicapa: las aplicaciones incluyen capas finas magnéticas, superconductores de alta temperatura y semiconductores III-V.
XSB
Monitoreo de deposición multi-fuente en aplicaciones MBE. Cuadrupolo diseñado con un propósito altamente resistente a la contaminación para el monitoreo de la tasa de deposición, el análisis de la calidad de la fuente y el diagnóstico de vacío de alto rendimiento.
TDSLab Series
Sistemas de Espectrometría de Desorción Térmica para la Investigación de Materiales Avanzados. Ofreciendo precisión, fiabilidad y versatilidad para la investigación y la industria.
SIMS Workstation
La estación de trabajo SIMS combina el análisis SIMS dinámico y estático con un espectrómetro de masas de modo dual para la detección de iones positivos (+ ve) y negativos (-ve), y un modo de detección de espectrometría de masas neutra secundaria (SNMS) adicional, para una flexibilidad superior en aplicaciones de análisis de superficies.
ToF-qSIMS Workstation
El sistema TOF-qSIMS de Hiden está diseñado para aplicaciones de análisis de superficies y perfiles de profundidad de una amplia gama de materiales, incluidos polímeros, productos farmacéuticos, superconductores, semiconductores, aleaciones, recubrimientos ópticos, funcionales y dieléctricos con medición de trazas de componentes a niveles sub-ppm.El Hidden Compact SIMS (espectrometría de masas de iones secundarios) tiene un factor de forma bajo y un diseño simple y fácil de usar, con una sensibilidad isotópica sobresaliente en toda la tabla periódica.
Compact SIMS
El Hidden Compact SIMS (espectrometría de masas de iones secundarios) tiene un factor de forma bajo y un diseño simple y fácil de usar, con una sensibilidad isotópica sobresaliente en toda la tabla periódica.
AutoSIMS
Una solución robusta de análisis de superficies para operaciones de alto rendimiento, AutoSIMS puede realizar cientos de procesos al día sin la intervención del operador.
EQS SIMS Analyser
Con altas velocidades de transmisión y un analizador de energía de sector electrostático integrado de 45 °, el Hiden EQS (cuadrupolo electrostático) es un detector SIMS de iones positivos y negativos versátil para aplicaciones de análisis de superficies a nanoescala.
MAXIM
El Hiden MAXIM es un sistema de espectrometría de masas cuadrupolo completo con óptica de alta transmisión y un filtro de masa triple, que admite el mapeo detallado de la composición de la superficie en un rango de masa de hasta 1000 unidades de masa atómica (AMU).
IG5C
El IG5C cuenta con una fuente de ionización de superficie de baja potencia y alto brillo acoplada a una columna de iones compacta, que proporciona un alto rendimiento en un paquete pequeño. El IG5C está diseñado como un haz de iones primario para todas las aplicaciones SIMS, dinámicas, estáticas y de imágenes.
IG20
Diseñado principalmente para la compatibilidad con el oxígeno, el Hiden IG20 es una fuente de iones de impacto de electrones de alto rendimiento con una alta densidad de corriente para un punto intenso de solo 100 micrómetros (µm) de diámetro.
