Productos para análisis de superficies
Compact SIMS
El Hidden Compact SIMS (espectrometría de masas de iones secundarios) tiene un factor de forma bajo y un diseño simple y fácil de usar, con una sensibilidad isotópica sobresaliente en toda la tabla periódica.
AutoSIMS
Una solución robusta de análisis de superficies para operaciones de alto rendimiento, AutoSIMS puede realizar cientos de procesos al día sin la intervención del operador.
SIMS/SNMS Workstation
La estación de trabajo SIMS combina el análisis SIMS dinámico y estático con un espectrómetro de masas de modo dual para la detección de iones positivos (+ ve) y negativos (-ve), y un modo de detección de espectrometría de masas neutra secundaria (SNMS) adicional, para una flexibilidad superior en aplicaciones de análisis de superficies.
ToF-qSIMS Workstation
Das Hiden TOF-qSIMS-System wurde für die Oberflächenanalyse und Tiefenprofilierung einer Vielzahl von Materialien entwickelt, darunter Polymere, Pharmazeutika, Supraleiter, Halbleiter, Legierungen, optische und funktionelle Beschichtungen und Dielektrika, mit Messung von Spurenkomponenten im sub-ppm-Bereich.
EQS SIMS Analizador
Con altas velocidades de transmisión y un analizador de energía de sector electrostático integrado de 45 °, el Hiden EQS (cuadrupolo electrostático) es un detector SIMS de iones positivos y negativos versátil para aplicaciones de análisis de superficies a nanoescala.
MAXIM
El Hiden MAXIM es un sistema de espectrometría de masas cuadrupolo completo con óptica de alta transmisión y un filtro de masa triple, que admite el mapeo detallado de la composición de la superficie en un rango de masa de hasta 1000 unidades de masa atómica (AMU).
IG5C
El IG5C cuenta con una fuente de ionización de superficie de baja potencia y alto brillo acoplada a una columna de iones compacta, que proporciona un alto rendimiento en un paquete pequeño. El IG5C está diseñado como un haz de iones primario para todas las aplicaciones SIMS, dinámicas, estáticas y de imágenes.
IG20
Diseñado principalmente para la compatibilidad con el oxígeno, el Hiden IG20 es una fuente de iones de impacto de electrones de alto rendimiento con una alta densidad de corriente para un punto intenso de solo 100 micrómetros (µm) de diámetro.
Soluciones SIMS personalizadas
La naturaleza modular de los productos Hiden nos permite diseñar instrumentos personalizados de manera eficiente para aplicaciones y ubicaciones específicas.
XPS para SIMS
Una opción de sistema de ciencia de superficie UHV multitécnica que proporciona XPS, UPS, AES, SAM, ISS y LEIS instalados en la estación de trabajo Hiden SIMS.
